回折分析(薄膜 結晶) - メーカー・企業と製品の一覧

X線回折分析＜多様なニーズに対応可能＞

化合形態の定性分析や極点測定による配向性評価など、多様なニーズに対応可能！

当社が行っている「X線回折分析」についてご紹介します。 X線回折装置は、物質にX線を照射することで生じる回折現象を利用し、 物質の結晶構造の分析を行います。物質を構成する原子の種類や 配列に関する情報から、化合形態の定性分析や定量分析、さらには 結晶状態の評価が可能です。 当社のX線回折装置は各種アタッチメントを備えており、二次元検出器を 用いた微小部測定、薄膜試料の分析、極点測定による配向性評価など、 多様なニーズに対応可能です。 【分析に必要な試料】 ■微量の粉末試料や数mm程度の金属片等があれば定性分析が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。